Please use this identifier to cite or link to this item: http://dx.doi.org/10.25673/4786
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dc.contributor.authorKalkofen, Bodo-
dc.date.accessioned2018-09-24T16:18:03Z-
dc.date.available2018-09-24T16:18:03Z-
dc.date.issued2007-
dc.identifier.urihttps://opendata.uni-halle.de//handle/1981185920/10828-
dc.identifier.urihttp://dx.doi.org/10.25673/4786-
dc.description.statementofresponsibilityBodo Kalkofen-
dc.format.extentOnline-Ressource (PDF-Datei: 176 S., 3289 KB)-
dc.language.isoger-
dc.publisherUniversitätsbibliothek-
dc.publisherOtto von Guericke University Library, Magdeburg, Germany-
dc.subjectHochschulschrift-
dc.subjectOnline-Publikation-
dc.subject.ddc621-
dc.titleUntersuchungen zum Dotieren von Silicium aus einer Oberflächenbelegung mit Phosphor in einem Kurzzeitprozess-
dc.title.alternativeRapid thermal doping of silicon from a phosphorus surface layer-
dcterms.typeHochschulschrift-
dc.typePhDThesis-
dc.identifier.urnurn:nbn:de:101:1-201010181765-
local.publisher.universityOrInstitutionOtto-von-Guericke-Universität Magdeburg-
local.subject.keywordsSilicon, shallow junction, rapid thermal doping, vapour phase doping, atomic-layer doping, phosphorus diffusion, phosphine adsorption, sheet resistance, four-point probe, native oxidation-
local.openaccesstrue-
Appears in Collections:Fakultät für Elektrotechnik und Informationstechnik

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